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尼康激光扫描测头 MMDx/MMC
关节臂扫描头(ModelMaker MMDx/MMC) 直接扫描各种材料 主要优点更快更准确的扫描,为您节省成本和时间符合人体工学设计的轻型小扫描器可以扫描几乎所有工业材料便携式开箱即用式设备简便
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尼康激光扫描测头 MMDx/MMC
关节臂,包括Faro和Romer/CimCore。关节臂扫描头(ModelMaker MMDx/MMC) 直接扫描各种材料 主要优点更快更准确的扫描,为您节省成本和时间符合人体工学设计的轻型小扫描器
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MMC 274 Nexus™
耐驰最新研发的多模块化绝热量热仪(MMC)是目前市场上功能最丰富的量热仪系统,适用于测量放热化学反应的热量、反应速率、热容、相变、气体产生速率、压力变化,还可以检测吸热反应。MMC整合了DSC、加速
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尼康激光扫描测头 MMDx/MMC
生产的关节臂,包括Faro和Romer/CimCore。关节臂扫描头(ModelMaker MMDx/MMC) 直接扫描各种材料 主要优点更快更准确的扫描,为您节省成本和时间符合人体工学设计的轻型小
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SPM300系列半导体参数测试仪
设备概览基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值),也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性
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SPM600系列半导体参数分析仪
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑
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卓立汉光SPM300系列半导体参数分析仪 应用于半导体领域
卓立汉光SPM300系列半导体参数分析仪 应用于半导体领域基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值
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卓立汉光半导体参数分析仪SPM600系列 应用于半导体领域
卓立汉光半导体参数分析仪SPM600系列 应用于半导体领域SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流
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牛津仪器半导体检测仪刻蚀和沉积设备 半导体制造
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牛津仪器半导体检测仪
化合物半导体的刻蚀包括AlGaN/GaN/AlN的刻蚀,氮化铝镓的深度刻蚀,还有GaP、磷化镓、GaAs/AlGaAs、砷化镓/砷化铝镓、GaSb、氮化镓、InSb、锑化铟、InP/InGaAsP
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